粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分

摘要：

采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的”干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正.用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,Al2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量.该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%-0.64%范围内.

关键词：粉末压片、X射线荧光光谱、钒渣、干扰增量法、谱绂重叠校正.

所属期刊栏目：25

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：416-420