上机房营子遗址出土陶器的XRF分析研究

摘要：

利用X射线荧光对上机房营子遗址出土陶器残片的成分进行分析,用社会科学用统计软件包(SPSS)对实验数据进行多元统计分析.结果表明,不同文化期的样品基本自成一类.本文还将上机房营子遗址与三座店遗址的出土陶片进行比较分析,发现夏家店下层文化晚期两地可能存在着文化交流.

关键词：上机房营子遗址、X射线荧光分析、多元统计分析

所属期刊栏目：24

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：中国科学院知识创新工程项目KJCX3.SYW.N12

在线出版日期：2007-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：725-728