10.3969/j.issn.1004-8138.2006.02.023
ICP-AES测定彩涂前处理表面调整转化层中Ti、Ni含量及钝化膜中Cr含量
采用电感耦合等离子体-原子发射光谱法同时测定彩涂前处理表面调整转化层中Ti、Ni含量及钝化膜中Cr含量.以表征表面调整转化层厚度及钝化膜厚度,采用本方法准确度高、快速简便,经试验结果令人满意.
电感耦合等离子体-原子发射光谱法、表面调整转化层、钝化膜、钛、镍、铬
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O657.31(分析化学)
2006-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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