10.3969/j.issn.1004-8138.2003.05.008
商周原始瓷的EDXRF无损分析
采用能量色散X射线荧光(EDXRF) 经验系数法,对江西吴城遗址出土的商代原始瓷残片中主、次量元素含量进行了无损测试,根据仪器提供的强度校正方程, 用已知成分的陶瓷标准参考物求出校正系数,进行基体校正,所得结果与前人的研究工作颇为吻合.该法能满足考古样品分析的要求,特别适用于古陶瓷样品的无损检测.
能量色散X射线荧光光谱、原始瓷、无损检测
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O657.34(分析化学)
国家自然科学基金10135050;中国科学院知识创新工程项目KJCX-No4
2003-10-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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