X荧光光谱法测定烧结矿中SiO2等7个成分的含量

摘要：

本文采用粉末压片法制样,X荧光光谱法分析烧结矿中的TFe、SiO2、CaO、S、MgO、Al2O3、P,建立的校准曲线线性较好,测定结果令人满意.

关键词：X荧光光谱法、粉末压片、烧结矿

所属期刊栏目：20

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2003-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：601-604