10.3969/j.issn.1004-8138.2003.04.035
ICP-AES测定金属钯中的杂质
建立了电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES),同时测定金属钯中Ag、Al、As、Au、Bi、Ca、Co、Cr、Cu、Fe、Ir、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Pt、Rh、Ru、Sb、Si、Sn、Ti、Zn等杂质含量的方法.方法简便、快速、准确,各杂质的测定精密度在0.25%-3.0%之间,检出限在0.020-0.062(μg/g)之间,回收率在85%-100%之间.
电感耦合等离子体-原子发射光谱、钯、杂质
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O657.31(分析化学)
2003-08-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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