XRD法测定沸石分子筛中硅铝比

摘要：

用X射线衍射外推函数法测定NaY超稳分子筛的晶胞参数,用29Si、27Al固体NMR方法测定分子筛骨架中的硅铝比,提出了NaY超稳分子筛硅铝比与晶胞参数关联的经验公式.通过测定分子筛的晶胞参数即可得到NaY超稳分子筛的硅铝比.该方法测得的NaY超稳分子筛硅铝比,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好.

关键词：X射线衍射、NaY分子筛、固体NMR、硅铝比

所属期刊栏目：20

分类号：O434.14;O657.2(光学)

在线出版日期：2003-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：452-454