10.3969/j.issn.1004-8138.2003.03.008
小型X射线荧光光谱仪快速分析萤石的成分
本文以粉末压片法制样,小型多道QX荧光光谱仪测定萤石中的SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO,方法的准确度高、精密度较好,分析误差能满足化学分析方法的要求,可完全代替化学分析法.对一个萤石样品的全分析只需30min.方法快速、简便,结果令人满意.
X射线荧光光谱法、粉末压片、萤石
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O657.34(分析化学)
2003-08-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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