X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

摘要：

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫,代替传统的化学分析方法.原样品粉末直接压片,标准样品采用国标焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片,采用散射线背景校正法校正基体的影响,效果良好,简便易行.本方法的精密度与准确度均较好.

关键词：X射线荧光光谱、石墨电极粉、背景校正

所属期刊栏目：19

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：250-252