原子吸收光谱仪测量体系的受控分析

摘要：

通过采用统计质量保证(SQA,Statistical Quality Assurance)技术,对原子吸收光谱仪(AAS)测量体系的性能进行了线性假设的受控分析.研究结果表明,该程序的应用能保证光谱仪测量体系始终处于统计受控状态,确保测试条件下数据结果的有效性,有利于分析测试试验室质量保证活动的开展.

关键词：统计质量保证、现场再现性、单值-移动极差控制图

所属期刊栏目：19

分类号：O657.31(分析化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：50-55