X射线荧光法对镁铬砂成分的定量测定

摘要：

本文利用X射线荧光光谱仪同时测定镁铬砂中的SiO2、CaO、Fe2O3、Al2O3、Cr2O3、TiO2、MgO等主要成分的含量,采用合理的制片方法消除了矿物效应和颗粒效应,采用基体校正法基本上消除了基体效应.实验表明:该方法简便快速、精密度高、准确度好,结果较为满意.

关键词：X射线荧光、镁铬砂、基体校正

所属期刊栏目：17

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：431-434