10.3969/j.issn.1004-8138.2000.04.006
IRIS(CID)-ICP-AES法同时测定聚合物PDXL过程产物中的硫和钠
本文报道采用IRIS(CID)全谱等离子体光谱仪,同时测定高分子聚合物PDXL研制过程产物中硫和钠的含量.样品制成10%硝酸溶液后用180.734nm硫的谱线和589.592nm钠的谱线分别测定硫和钠.方法的检出限S为3.9μg/L,Na为1.4μg/L,RSD均小于0.3%,与标准加入法及燃烧法对照,结果吻合得很好,方法快速、简便.
ICP-AES、CID(电荷注入检测器)、硫、钠
17
O657.31(分析化学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
388-391