铝电解质中二氧化锡的光谱测定

摘要：

本文探讨了发射光谱法测定铝电解质中二氧化锡.粉末试样不需溶样,人工合成标准系列,消除了组织结构对测定的影响,对缓冲剂、内标、电极形状及摄谱条件作了最佳选择,RSD为 5.9%,加标回收率为100.9%,与国外XRF结果十分吻合.

关键词：铝电解质、二氧化锡、光谱测定

所属期刊栏目：16

分类号：O6(化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：521-523