高压X光机发射谱的测量与研究

摘要：

本文描述了测量高压X光机发射谱的技术,并成功地测量了140kV高压X光机的发射谱.研究了滤波片对X光机发射谱特性的影响,在此基础上提出了可根据不同的测试目的和条件,用不同的滤波片可形成高强度的准单能、双能等X光激发源及其可能的应用领域.

关键词：X光机、发射谱、滤波片

所属期刊栏目：16

分类号：O6(化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：405-407