10.3969/j.issn.1004-8138.1999.03.033
X射线荧光光谱-玻璃熔融制样法分析铁矿中主成分和微量成分
采用n样品:m熔剂为1∶2的低稀释比玻璃熔融技术、X射线荧光法测定铁矿中的主成分和微量成分、既提高了灵敏度又消除了不均质效应,与粉末压片方法相比,对硫的分析得到了更好的结果.使用基本参数程序建立了一新的校正方法来校正由于烧失量、烧增量、稀释比或熔剂挥发而导致的分析误差.
X射线荧光分析、玻璃熔融技术、基本参数法、硫
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O6(化学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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