X荧光光谱法测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成分比

摘要：

本文提出用溶液法X荧光光谱测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成份比.在较低管压和管流的条件下采用二元比例法,铌锡荧光强度比与其重量比呈良好线性关系.铌锡薄层与合金基带的重量比,试液浓度,液槽中试样液面的高低等不影响铌锡的荧光强度比.方法的准确度和再现性,令人满意.

关键词：X荧光光谱法、Sn、Nb

分类号：O6(化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：0