10.3969/j.issn.1004-8138.1998.04.030
X射线荧光光谱快速分析地质物料主、次元素
本文建立了X射线荧光光谱分析地质、化探扫面样的快速方法.掌握各元素的分析特征,选择适宜的条件,从而缩短分析时间,降低其成本,达到快速、简便的目的.
X射线荧光光谱、地质物料、主、次元素
O6(化学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共1页
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10.3969/j.issn.1004-8138.1998.04.030
X射线荧光光谱、地质物料、主、次元素
O6(化学)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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