X射线荧光光谱粉末直接压片法测定哈默斯雷铁矿中的主次元素含量

摘要：

本方法采用塑料环作镶圈,粉末直接压片,用X射线荧光光谱法测定哈默斯雷铁矿中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO、K2O和Na2O的含量,试验结果表明:基体影响无需进行校正,方法的准确度和精密度均较高,结果令人满意.

关键词：X射线荧光光谱法、粉末直接压片、哈默斯雷铁矿

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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