化学还原法合成均匀银纳米线的条件研究

摘要：

采用化学还原法,以乙二醇为还原剂,聚乙烯砒咯烷酮(PVP K30)为表面活性剂,通过还原硝酸银(AgNO3)溶液直接制备了高浓度的Ag纳米线溶液,并研究了PVP与AgNO3溶液摩尔浓度比和AgNO3溶液浓度对Ag纳米线生长的影响.用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)对纳米Ag晶体的生长形貌进行了比较,利用X射线衍射(XRD)分析了Ag纳米线的晶体结构.研究结果表明,在160℃下,当AgNO3溶液浓度为0.6M,PVP/AgNO3的浓度比为6时,可制备规则的面心立方晶系纯相的Ag纳米线,直径为60-100nm,长度可达10μm,且具有产量高和重复性强的特点.

关键词：银纳米线、化学还原法、制备

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分类号：TU51(建筑材料)

资助基金：上海市科委纳米专项0952nm02200;上海市科技攻关项目08DZ1140102和09DZ1141900

在线出版日期：2011-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：7-12