CMOS双层可变功函数金属栅技术

摘要：

针对发展高速、低功耗CMOS电路,分析了CMOS技术对多层金属栅的要求;对于不同金属厚度的双层金属栅,利用MOS系统能带的变化得出半导体与多层金属功函数差取决于底层金属的功函数,这为只通过调节底层金属功函数以达到改变CMOS阈值电压提供了理论依据;利用不同厚度的双层金属系统能带变化分析获得,当多层金属栅的底层金属厚度小于其最大偶极层厚度时,功函数较厚膜材料变大,达到"厚度调变功函数"效应.

关键词：CMOS、双层金属栅、阈值电压、调变功函数

所属期刊栏目：16

分类号：TN386(半导体技术)

资助基金：国家杰出青年科学基金60725415;中国博士后科学基金资助号:20080441164

在线出版日期：2010-06-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：158-162