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10.3969/j.issn.1007-4252.2009.05.012

自分离硅微通道的氧化

引用
本文研究了自分离硅微通道(self lift-off silicon microchannels)的氧化问题.自分离是在特定的实验条件下,在完成电化学刻蚀后,硅微通道可以自动和衬底分离的一种新技术.研究发现,在使用传统的干氧-湿氧-干氧氧化化过程中,硅微通道出现了弯曲变形的现象.微通道越薄,其形变越大.通过使用较厚的硅微通道以及在干-湿-干氧化过程之前增加了干氧,以及先进行激光切割的步骤,改善和基本消除了弯曲变形的现象.

自分离硅微通道、弯曲变形、氧化

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TP211+.4(自动化技术及设备)

上海市基础研究重点基金08JC1408900;国家自然科学基金50672027

2009-12-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

483-489

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功能材料与器件学报

1007-4252

31-1708/TB

15

2009,15(5)

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