期刊专题

10.3969/j.issn.1007-4252.2008.02.020

LPCVD生长结构层多晶硅和掺P多晶硅的工艺

引用
对LPCVD生长结构层多晶硅和掺P多晶硅的原理进行了阐述,分析了薄膜质量与各项工艺参数的关系.实验时,对各项工艺参数进行调节,在保证薄膜质量和片内一致性的同时取得最大的生长速率.生长出来的多晶硅结构层厚度达到2μm;掺P多晶硅的厚度达到1OOOhA.

LPCVD、多晶硅、掺P多晶硅

14

TN304(半导体技术)

国家重点实验室基金9140C1405020607

2008-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

372-375

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功能材料与器件学报

1007-4252

31-1708/TB

14

2008,14(2)

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