10.3969/j.issn.1007-4252.2008.02.020
LPCVD生长结构层多晶硅和掺P多晶硅的工艺
对LPCVD生长结构层多晶硅和掺P多晶硅的原理进行了阐述,分析了薄膜质量与各项工艺参数的关系.实验时,对各项工艺参数进行调节,在保证薄膜质量和片内一致性的同时取得最大的生长速率.生长出来的多晶硅结构层厚度达到2μm;掺P多晶硅的厚度达到1OOOhA.
LPCVD、多晶硅、掺P多晶硅
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TN304(半导体技术)
国家重点实验室基金9140C1405020607
2008-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
372-375