10.3969/j.issn.1007-4252.2004.04.012
GaAs霍尔元件不等位电势的调制消除
测试了 MESFET工艺条件下制作的霍尔片的基本性能.对设计出的 GaAs集成霍尔元件进 行了不等位电势的测试,采用霍尔元件并联和自旋电流的方法对 GaAs方形霍尔元件的不等位电 势进行了静态和动态调制消除.实验结果表明 GaAs霍尔元件的不等位电势引起的偏差可以控制 在可以忽略的范围内.
霍尔效应、磁传感器、不等位电势
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TN382(半导体技术)
上海市汽车工业科技发展基金
2005-01-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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