Au/In合金在陶瓷封装装片中的应用

摘要：

本文用等温凝固技术研究了Au-In合金在陶瓷封装装片中的应用.结果表明,通过一种多层结构设计和机械振动的作用,硅芯片可在250oC～300oC、2.1N/mm2的静态加载压力和流量为0.5l/min的氮气环境下焊接到氧化铝衬底上,绝大多数样品的剪切强度符合MILSTD883D美国军方标准,焊层具有良好的可靠性,在-55oC～+125oC之间1750周热循环试验后,剪切强度仅有微量下降.同时,用金相方法对热循环试验前后的焊层微结构进行了分析.

关键词：装片、等温凝固、剪切强度、热循环、微结构

所属期刊栏目：6

分类号：TN305.94(半导体技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：119-124