10.3969/j.issn.1673-808X.2000.04.022
对并行测试生成理论的一点综述
综述了并行自动测试生成(ATPG)理论的发展概况,并对发展前景提出了几点看法.文章特别强调:研究一种能把被测电路实质性划小的方法是进一步提高并行ATPG效率的关键所在.
并行ATPG、加速比、自动测试
20
TP306(计算技术、计算机技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
100-105
10.3969/j.issn.1673-808X.2000.04.022
并行ATPG、加速比、自动测试
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TP306(计算技术、计算机技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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