故障分解的并行测试生成算法

摘要：

并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段.故障分解又是最基本的并行测试方法.详细论述了故障分解的理论和两种故障分解算法的基本模型,并且在实现了一个基于FAN算法的并行测试生成系统的基础上详细说明了故障分解的并行测试生成算法的具体实现.在系统实现中,将故障模拟在全故障集上进行,并对C/S通信进行了多线程处理,取得了比较好的加速效果.

关键词：并行测试、故障分解、测试矢量、输入锥、故障模拟

所属期刊栏目：19

分类号：TN454(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国防预研基金B96002

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：44-47