希捷瓦记录磁盘评测

摘要：

分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录(SMR)技术的优势及局限性,指出SMR 采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度, 但是这也带来了写覆盖(Write Overlay)问题,即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据,导致瓦记录磁盘(SWD)无法支持原地更新,使其非顺序写性能受到影响.为了促进该技术的应用,通过Fio和Filebench测试工具,对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘(SSWD)做了比较全面的测试,并对多种应用场景下SSWD 的性能做了详细的测试和分析,以便为SSWD在数据中心的应用提供重要的参考.

关键词：瓦记录(SMR)、瓦记录磁盘、写覆盖、原地更新

所属期刊栏目：27

分类号：TF8;O4

资助基金：中国科学院战略性先导科技专项XDA06010401;中国科学院重点部署项目KGZD-EW-103-57;北京市教育委员会科技计划km201510028019

在线出版日期：2017-09-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：416-425