基于扫描链的可编程片上调试系统

摘要：

研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统.该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬件电路,使芯片能够实时监测自身的运行状态,并在满足程序设定的条件后,自动触发故障诊断模式.该系统充分利用芯片内建扫描链,通过控制扫描链实现对芯片内部状态精确配置和观测.此外,该系统通过片上时钟电路对调试时钟进行精确控制,保证各模式时钟切换的正确性,同时还支持实速测试,为时序分析和调试提供新途径.该系统已在最新一款龙芯高性能通用处理器芯片上得到成功应用.

关键词：硅后调试、片上调试系统、可编程、可调试性设计、故障诊断、实速测试

所属期刊栏目：25

分类号：TP3;TN4

资助基金：国家"核高基"科技重大专项课题2009ZX01028-002-003, 2009ZX01029-001-003, 2010ZX01036-001-002, 2012ZX01029-001-002-002,2014ZX01020201;国家自然科学基金61221062, 61133004, 61173001, 61232009, 61222204, 61432016;863计划2012AA010901,2012AA011002, 2012AA012202, 2013AA014301

在线出版日期：2015-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：584-592