10.3321/j.issn:1002-0470.2002.08.015
三维高分辨工业X-CT系统
介绍了采用高分辨CCD面阵列探测器的微焦点三维CT系统的基本结构,应用基于Feldkamp的近似三维重建算法获得了令人满意的图像质量.与以往用线阵列探测器的CT系统比较,该系统具有采集数据快,成像速度快,检测周期短的特点,可实现对被检测陶瓷样品100%的检测.给出了使用该系统检测陶瓷轴承球的DR(数字照相)及CT图像.
CT、三维、微焦点、陶瓷
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TL8(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
国家科技攻关项目A10-01-09;国家自然科学基金69972023
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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