辉光放电质谱法测定纯铂中杂质元素

摘要：

采用辉光放电质谱法(GDMS)测定纯铂中杂质元素含量,获得了仪器最佳工作条件,并对比了不同样品制备方式对测定结果的影响.结果表明,GDMS对大部分杂质元素的检出限低至10-9量级,对含量在10-6的杂质元素,测定相对标准偏差(RSD)在10％以内,可满足高纯铂的测定要求.与ICP-AES和ICP-MS测定结果对比表明,采用仪器提供的相对灵敏度因子(RSF)所得到的半定量结果与前二者存在一定的偏差,有必要采用标准样品进行RSF的校准.纯铂样品采用金属片、铟片粘附或粉末压片均可得到相似的检测结果,其中粉末压片法在标样制作中具有较好的应用前景.

关键词：分析化学、辉光放电质谱(GDMS)、纯铂、杂质元素、制样

所属期刊栏目：41

分类号：O656.6(分析化学)

资助基金：国家重点研发计划项目;国家自然科学基金

在线出版日期：2020-12-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：45-50