电荷耦合器件消拖影后非线性测定

摘要：

随着电荷耦合器件(CCD)技术的迅速发展,CCD在光度检测中的应用越来越为人们所关注,如在CCD图像传感系统中,直接运用CCD列阵作为光电探测器件,测试光学系统及CCD成像系统的调制传递函数,其关键之一在于CCD光探测器的非线性.然而,CCD采集的图像都具有拖影.为了测量CCD芯片的非线性,提出一种定量测量CCD芯片响应非线性的实验方法,通过实验获得探测器输出信号与光照度数据,对图像进行消拖影;进而进行曲线拟合,得到了CCD芯片的响应非线性曲线.

关键词：电荷耦合器件、非线性、拖影

所属期刊栏目：26

分类号：TN386.5(半导体技术)

在线出版日期：2009-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：33-35