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10.3969/j.issn.1007-1180.2008.12.003

半导体激光器干扰CCD传感器实验研究

引用
为拓展半导体激光器的应用,开展了半导体激光器对可见光CCD传感器的干扰实验研究,得出CCD饱和像素个数与激光输出功率和CCD传感器电子快门时间的对应关系.当电子快门时间分别为t=1/10000 S、t=1/4000 S和t=1/2000 S时,CCD的饱和阈值分别为1W、1W和2.8W."软损伤"的阈值为10W,然而,在激光输出最大功率为22.4W的条件下并没有使CCD损伤.

半导体激光器、CCD传感器、光电对抗、激光

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TN248.4(光电子技术、激光技术)

2009-03-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1007-1180

22-1250/TH

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2008,25(12)

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