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田口实验法在背光源光学薄膜选材中的应用研究

引用
采用田口方法,Minitab 16软件设计正交实验,以反射膜、扩散膜、棱镜膜为3因素,每种因素选择常见的4种材料即为4水平,选择L16(43)正交表进行实验,分析实验结果,寻求最优实验条件,获得最佳背光源光学薄膜组合配置.通过实际测试对预测结果进行验证后表明预测值与实测值均在可以接受的范围内,在背光源光学薄膜选材领域可行.

田口实验设计、背光源、光学薄膜

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TN141.9(真空电子技术)

2016-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

135-138

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光电子技术

1005-488X

32-1347/TN

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2016,36(2)

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