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10.3969/j.issn.1005-488X.2014.04.003

新型PSVA像素结构中液晶配向的研究

引用
研究了一种新型的PSVA(聚合物稳定垂直配向)像素结构,与传统的的像素结构相比,该新型结构具有更高的穿透率.钝化(Passivation,PV)层的沟槽深度是新型像素结构中的一个关键参数,液晶的方位角和倾斜角与沟槽深度具有很强的相关性.通过模拟和实验研究了液晶的在该结构中的配向行为.

液晶配向、沟槽深度、像素结构

34

TP3;TN3

广东创新研究团队计划2011D079

2015-01-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

226-229,233

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光电子技术

1005-488X

32-1347/TN

34

2014,34(4)

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