光纤光栅结构对磁场测量性能的影响

摘要：

提出了一种基于光纤光栅的磁场测量方法.该方法主要是通过法拉第效应和对偏振相关损耗的测量来实现磁场测量.文中主要分析了不同光纤光栅结构对磁场测量性能的影响.分别通过分析普通采样光栅、啁啾采样光栅和切趾采样光栅由于透射谱的差异而导致磁场引起的透射光偏振损耗的不同,对这几种光栅结构及不同的光栅参数对测量范围、测量灵敏度的影响进行了仿真,为下一步的实验研究打下了基础.

关键词：光栅结构、磁场测量、性能分析

所属期刊栏目：28

分类号：TP253(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60871075

在线出版日期：2009-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：232-236