H2O对OLEDs寿命影响的探讨

摘要：

根据Alq3+的不稳定性模型,通过水分子的电离产生OH-,然后在Alq3层中引入Alq3+陷阱的方法,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响,表明当OLEDs内水浓度达到一定值时,才会对OLEDs寿命产生显著影响,而且寿命与H2O的浓度成反比,与电场强度的指数成反比.

关键词：电离、Alq3+陷阱、寿命

所属期刊栏目：24

分类号：TN312+.8(半导体技术)

在线出版日期：2005-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：169-170,173