10.3969/j.issn.1005-488X.2000.01.010
脉冲强激光辐照半导体材料损伤效应的解析研究
研究了强激光辐照半导体材料InSb时的热输运、自由载流子输运和光子输运过程,探讨了激光对半导体材料的损伤机理.为半导体材料的辐射效应和抗辐射加固技术提供了一个理论证据.
强激光、半导体材料、辐照效应、损伤机理
20
TN3(半导体技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
52-58
10.3969/j.issn.1005-488X.2000.01.010
强激光、半导体材料、辐照效应、损伤机理
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TN3(半导体技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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