基于电致发光效应的绝缘子表面场强测量方法

摘要：

由于电场探头在测量绝缘子表面场强分布时会产生畸变,为了更加准确地测量绝缘子表面场强分布,基于ZnS∶Cu的电致发光效应,提出了一种非接触式测量绝缘子表面场强分布的试验方法.该方法是在绝缘子表面喷涂掺有ZnS∶Cu电致发光粉末的环氧树脂涂料,并对其在高场强下的发光进行拍摄,利用图像处理的方法得到绝缘子表面场强的分布.首先在结构较为简单的圆盘绝缘子上进行了可行性验证,在圆盘绝缘子的大部分区域上实现了平均误差为3％的测量;然后将该方法推广至盆式绝缘子,测量所得结果与仿真结果较相符.结果 表明:电致发光效应可应用于绝缘子表面场强分布的测量,该方法不会使绝缘子的表面场强发生畸变,为绝缘子表面场强分布的测量提供了一种新思路.

关键词：ZnS∶Cu、电致发光效应、盆式绝缘子、表面场强、非接触式测量

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分类号：TM937.1;TN957.52;O482.31

资助基金：国家重点研发计划;国家电网有限公司总部科技项目

在线出版日期：2021-06-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：1411-1419