纳秒脉冲下温度、频率对尼龙6电老化的影响

摘要：

尼龙6作为绝缘材料经过长时间运行后,绝缘性能会受老化的影响而劣化.目前对此类绝缘材料的研究多集中在常温和工频下,在ns脉冲条件下的研究较少.为了研究温度、频率对尼龙6中电树枝引发的影响,实验采用了固态ns脉冲发生器MPC50D为激励源,其具有30 ns的下降沿和70 ns的脉冲宽度;使用温度循环实验箱SP-80U控制实验温度.实验的温度设定为-40～60℃,频率设定为20～1 500 Hz.实验结果表明:温度对尼龙6中的电树枝引发电压有明显的影响,随温度的升高电树枝引发电压下降明显;频率对电树枝的影响并不明显,只在200 Hz以下出现了较明显的趋势;尼龙6、聚四氟乙烯(PTFE)和有机玻璃(PMMA)中的电树枝形态差异巨大,尼龙6中为丛林形,PTFE中为树枝形,PMMA中为层裂形;ns脉冲下击穿通道出现了放电引发的扇形结构.实验数据为尼龙6在ns脉冲下的绝缘应用提供了参考.

关键词：尼龙6、电树枝、ns脉冲、电老化、PTFE、PMMA

所属期刊栏目：41

资助基金：清华大学开放研究课题基金SKLD12KM01.Project supported by Opening Fund of Tsinghua University SKLD12KM01

在线出版日期：2015-05-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1334-1341