试验程序差异对绝缘子污闪电压的影响

摘要：

各研究机构利用相同标准进行绝缘子串污闪特性试验所得结果差异较大,从而导致外绝缘的选择和设计存在争议.为此,根据试验室大量试验结果,并综合国内外研究成果,对试验程序差异对绝缘子串污闪电压的影响进行了研究,并提出了相应的电压修正方法.研究结果表明:试验过程中,染污方式、非可溶沉积物成分、非可溶沉积物密度(简称灰密)值、温度等均对绝缘子串污闪电压有影响；根据所提出的电压修正方法,修正后的各研究机构试验结果基本相同.研究结果对完善绝缘子人工污秽试验方法和外绝缘的选择与设计具有重要参考价值.

关键词：绝缘子、污秽、试验程序、闪络特性、影响因素、修正方法

所属期刊栏目：39

分类号：TM8;TM2

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划2009CB724503;National Basic Research Program of China 973Program2009CB724503

在线出版日期：2013-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1089-1095