绝缘子污秽闪络的统计特性及风险评估
污秽绝缘子的泄漏电流是表征绝缘子表面状态的重要动态参数.污秽绝缘子泄漏电流特性以及基于泄漏电流特征量的污秽度预测、闪络风险评估一直是国内外相关领域学者研究的热点,但泄漏电流的统计特性和闪络风险的定量计算的研究很少.为此,在人工搭建的雾室内,对XP-160和LD-120绝缘子进行大量人工污秽试验,以泄漏电流幅值Im和闪络电压Uf为参量统计大量试验数据对污秽绝缘子的闪络风险做综合评估.结果表明:两种绝缘子泄漏电流幅值Im的概率分布类似正态分布,闪络电压值Uf的概率分布同样类似正态分布.最终综合了泄漏电流幅值Im和闪络电压值Uf对绝缘子污闪的影响,计算出线路绝缘子串污闪风险概率.
绝缘子、泄漏电流、闪络概率、统计特性、输电线路、风险评估
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TM216;TM855(电工材料)
重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室开放研究基金2007DA10512709404
2011-12-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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