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10.3969/j.issn.1003-6520.2005.01.005

绝缘试样的漏电痕迹劣化与环境因素的影响

引用
目前尚无非常规环境下评估绝缘材料漏电痕迹劣化的国际标准,故按IEC 60112和IEC 60587国际标准论述了不同种类绝缘试样在紫外线照射、低气压、γ射线辐射、酸雨及高温环境下的漏电痕迹劣化特征,即紫外线照射可改变环氧树脂的绝缘破坏时间;在低气压环境下聚碳酸酯的CTI值增大,聚对苯二甲酸乙二醇酯的CTI值减小;随着γ射线照射量的增加聚萘二酸丁醇酯的CTI值增大,聚对苯二甲酸丁二醇酯的CTI值减小;聚碳酸酯随着温度的升高CTI值增大;聚苯乙烯在酸雨环境下绝缘强度无明显变化.在非常规环境下,如果用CTI值变小的绝缘材料将导致电器设备绝缘过早击穿而引起电气事故.

有机绝缘材料、漏电痕迹劣化、环境因素、CTI值

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TM852(高电压技术)

2005-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

12-13,19

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高电压技术

1003-6520

42-1239/TM

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2005,31(1)

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