10.3321/j.issn:0251-0790.2007.12.003
单晶Ni纳米线阵列的制备与磁性能
采用恒电流沉积方法,在多孔阳极氧化铝(AAO)模板中制备出了具有单晶结构的Ni纳米线阵列.采用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和X射线衍射(XRD)技术对制备的Ni纳米线阵列的形貌及结构进行了表征.利用振动样品磁强计(VSM)对单晶Ni纳米线阵列的磁性能进行了研究.结果表明,单晶镍纳米线阵列的易磁化方向为纳米线轴向,并且与多晶纳米线相比显示出了更高的矫顽力.直径为30nm的纳米线具有较高的矫顽力(8.236×104 A/m)和较高的剩磁比(Mr=0.94Ms).
AAO模板、Ni纳米线阵列、单晶、磁性能
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O614;TG153.4(无机化学)
国家自然科学基金50525102;河北省自然科学基金E2004000233
2008-04-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2239-2241