强光作用下光电成像系统饱和效应研究

摘要：

通过强光辐照光电成像系统实验研究,得到了饱和像元数与入射光强、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的变化规律,并利用光学系统点扩展函数(PSF)进行了理论验证.结果表明,饱和像元主要由衍射效应引起.推导了饱和像元数与入射光强、波长、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的关系.

关键词：饱和效应、饱和像元数、衍射效应、PSF

所属期刊栏目：33

分类号：TN206(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2018-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：21-24,78