期刊专题

10.3969/j.issn.1673-1255.2011.04.003

基于CPLD+FLASH的多通道测试记录仪

引用
设计了一种基于复杂可编程逻辑器件(complex programmable logic device,CPLD)控制、FLASH MEMORY(闪速大容量存储器)存储的新型存储测试系统。此系统的采样频率最大为1MHz,可灵活选择500kHz、250kHz的不同采样频率,并且系统具有内外触发的功能。实验结果表明,该系统能够准确有效地存储A/D数据的采集。

FLASH、存储测试、复杂可编程逻辑器件(CPLD)、高速采集

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TP274(自动化技术及设备)

山西省自然科学基金2009011023

2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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光电技术应用

1673-1255

21-1495/TN

26

2011,26(4)

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