一种新型光电设备响应时间与探测概率自动测试系统

摘要：

提出了一种实用新型光电设备系统响应时间及探测概率自动测试系统.该系统采用闭环控制原理,以TMS320LF2407 DSP为核心,通过可控模拟目标源、双余度反馈,保证了测试结果的可靠性及准确性.大量的测试试验验证了该方法的有效性.

关键词：闭环控制、TMS320LF2407、可变光阑、响应时间、探测概率

所属期刊栏目：23

分类号：TP274+.5(自动化技术及设备)

在线出版日期：2008-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-41