10.6052/j.issn.1000-4750.2012.04.0246
基于伪谱法合成零偏移距记录的结构损伤探测与成像
该文讨论了如何利用伪谱法合成零偏移距记录进行结构损伤探测与偏移成像.从二维标量波动方程出发推导了不同情况下的数值计算公式.采用反周期扩展法对边界吸收问题做了有效处理,消除了边界反射产生的假象和干扰波场.用波场外推法合成得到了能适应复杂损伤形态和横向变速介质的零偏移距记录.根据波动方程分析了伪谱法的数值频散性、奇异性以及波场形态、位移、振幅、能量、动应力集中系数等力学特征,通过波动方程的位移解得到波场快照图和时间剖面图,实现了结构损伤可视化探测与识别.数值算例证明了伪谱法偏移成像的适用性.
结构损伤探测、伪谱法、零偏移距记录、波动方程、边界吸收、波场快照、损伤成像
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V448.251(航天仪表、航天器设备、航天器制导与控制)
国家自然科学基金项目50778179
2014-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
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