微波消解氢化物发生-原子荧光光谱法测定食品接触材料高密度聚乙烯中痕量锑

摘要：

应用微波消解氢化物发生-原子荧光光谱(HG-AFS)法测定了食品接触材料高密度聚乙烯中痕量锑,采用盐酸作为反应介质,并对最佳分析条件进行了探讨.结果表明,该方法的检出限为0.3 μg/L,线性范围为1.0～10.0μg/L,添加水平为0.25、1.0和2.0 mg/kg时,加标回收率为80.4％～106.5％,相对标准偏差小于6.9％.该方法操作简便,精密度和准确度好,检出限低,具有实际应用价值.

关键词：微波消解、氢化物发生-原子荧光光谱法、锑、食品接触材料、高密度聚乙烯

所属期刊栏目：28

分类号：O657.31(分析化学)

资助基金：国家质检总局检验检疫行业标准制定项目2009B200

在线出版日期：2012-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：116-118