基于飞行时间二次离子质谱成像技术的人民币上指纹化学成像研究

摘要：

长期流通过的人民币上潜在指纹的显现一直是法庭科学领域研究的难点之一.飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)技术具有原位、准无损、高通量、可多组分平行分析和空间分辨率高等优势.本研究利用TOF-SIMS技术对人民币表面的潜在指纹进行化学成像,比较了TOF-SIMS与几种传统方法的显现效果,研究并分析此技术具有的独特优势,从普适性、灵敏度和指纹三级特征获取的角度进一步探讨了方法的适用性.利用此技术对指纹中的外源性物质进行了分析,检测出保湿乳成分中丙三醇的分子离子峰(m/z 92.06)和碎片离子峰(m/z 43.02),并显示清晰的指纹图像.研究结果表明,TOF-SIMS技术为长期流通过的人民币上潜在指纹的显现提供了一种有效的方法,并有望用于其表面上指纹中物质的检测.

关键词：飞行时间二次离子质谱、人民币、指纹分析、化学成像

所属期刊栏目：48

资助基金：本文系中国人民公安大学基本科研课题项目;国家重点研发计划项目

在线出版日期：2020-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1511-1518