CL-20电子束的X射线光电子能谱-气体质谱原位同步分析技术研究

摘要：

X射线光电子能谱仪是材料表面元素定性和半定量分析,尤其是元素化学态分析的重要手段之一.X射线光电子能谱仪的分析腔连接质谱仪进行分析,可有效获得样品表面元素变化及气体产物,实现原位同步分析.基于炸药CL-20在光作用下存在着明显的分解现象,采用X射线光电子能谱-气体质谱同步分析方法(XPS-MS)获得CL-20在电子束作用下的表面元素及气体产物的变化.试验结果表明,随着辐照时间增加,N、O元素峰峰强迅速下降,同时质谱仪可以有效获得气态产物峰,证实XPS-MS同步分析技术能够有效地实现对固态光降解反应的原位同步追踪.

关键词：X射线光电子能谱-气体质谱同步分析;CL-20;电子束辐照;降解

所属期刊栏目：27

分类号：O657.62;O657.63(分析化学)

资助基金：国家自然基金面上项目21876164

在线出版日期：2021-12-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：240-244